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K-Mac ST2000-DLXn Thin Film Thickness Measurement System. $3,500.00Price. Quantity. In stock. Reference #. 153449549120. PARMA CnS Inc. DBA ReScience ...

本图片来自北京三尼阳光科技发展有限公司提供的K-MAC 韩国科美ST2000-DLXn薄膜厚度测量仪产品，图片仅供参考，K-MAC 韩国科美ST2000-DLXn薄膜厚度测量仪产品会因为批次 ...

ST2000-DLXn (Thin Film Thickness Measurement) ; Option, Reference Sample(K-MAC or KRISS or NIST) ; Head, Trinocular Head ; Nosepiecs ...

ST2000-DLXn ; Option, Reference Sample(K-MAC or KRISS or NIST) ; Head, Trinocular Head ; Nosepiecs, Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt ; Type of ...

光斑尺寸, 20㎛ 典型值 ; 测量速度, 1~2 sec./site ; 应用领域. 聚合体: PVA, PET, PP, PR ... 电解质: 半导体: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS... ; 选择, 参考样品(K-MAC or ...

使用K-MAC公司的先进光谱系统，可以很快、很容易地测量透光或者半透光薄膜的厚度、折射率及消光系数。简单地将K-MAC系统插入您电脑的USB口，并开始进行测量。

ST2000/ST4000/ST5030/ST5000 ооооооооо. MPUS. PlanFI ... ST,K-MAC的薄膜厚度测量系统采用的是光学技术方法。 ... ST2000/ST4000/ST5030/ST5000. ST5030-50. ST2000. 研究用 ...

2020年10月23日 — 1、尺寸：190 x 265 x 316 mm · 2、重量：12Kg · 3、类型：手动的 · 4、测量样本大小：≤ 4 · 5、测量方法：非接触式 · 6、测量原理：反射计 · 7、活动范围： ...